干涉顯微鏡6JA（普通型）一、用途6JA干涉顯微鏡是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度，并配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，同時還能將儀器安置在工件上，對大型工件表面進行測量。儀器測量表面不平深度范圍為1～0.03微米，用測微目鏡和照相方法來評定▽10～▽14光潔度的表面。本儀器適用于廠礦企業計量室，精密加工車間，也適用于高等院校，科學研究等單位。二、技術規格1、測量表面光潔度范圍 ：▽10～▽14（相當于測量表面不平深度范圍為1～0.03μm）2、工作物鏡的數值孔徑：0.653、工作距離： 0.5mm4、儀器的視場 目視：Φ0.25mm5、儀器的放大倍數：500×6、測量目鏡放大倍數：12.5×7、測微鼓分劃值：0.01mm8、綠色干涉綠色片波長 ：λ≈5300?9、半寬度：▽λ≈100?10、 工作臺升程：5mm11、X、Y方向移動范圍 ：≈10mm12、旋轉運動范圍 ：360°13、可調變壓器輸入電壓： 220V 或110V14、輸出電壓（可調）：4V～6V15、儀器標準鏡：高反射率：≈50%； ；低反射率： ≈4%16、儀器外形尺寸：270×160×230mm17、 儀器重量： ≈5㎏三、選配件1、計算機成像系統：CCD攝像頭、CCD適配鏡、外置式圖像視頻采集卡(A/D)2、數碼相機系統 ：數碼相機、90度數碼適配鏡、轉接器3、數碼攝像機系統：便攜式數碼攝像機、數碼圖像適配鏡（攝像型）、轉接環4、數字CMOS攝像機：(130萬/300萬/500萬/1000萬)、MCL-Z適配鏡四、儀器成套性序 號名稱單位數量備注1干涉顯微鏡本體臺1212.5×測微目鏡只13狹縫目鏡只14V型塊塊156V5W燈泡只6備用5只6可調變壓器220V/4V～6V只17試 樣 夾只18鋁合金箱只19產品使用說明書份110產品合格證明份111產品保修卡份1

讀數顯微鏡JBD-B一、用途JBD-B讀數顯微鏡是光學計量儀器之一，結構簡單，操作方便，應用范圍很廣。可作長度測定。如定孔距。基面距離刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等并能擴大一般顯微鏡使用范圍，可在不同方向上測量。可調45°反光鏡；光學系統調整采用斜齒嚙合，新型防滑裝置，永不下滑。讀數顯微鏡JBD-B, 可判別礦石標本，檢查印刷照像底板。由于測量架能脫 開底座，可固定在機床上直接對加工零件進行檢查，廣泛應用在機械、冶金、光學、科研等單位的檢查室、實驗室。二、技術參數目鏡10X物鏡3X放大倍數30X測量范圍0-50mm測微讀數鼓格值0.01mm測量精度0.015mm三、選購8X物鏡

BM-JC60讀數顯微鏡一、用途BM-JC60是一種便攜式的顯微測量讀數顯微鏡，對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、表面缺陷 的在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及細微顆粒、材料裂痕表面弊病檢測。二、技術參數型號BM-JC60儀器放大倍數60X目鏡放大倍數15X目鏡視場（mm）?8.5物鏡放大倍數4X測量范圍（mm）2鼓輪*小讀數值（mm）0.0025儀器重量（㎏）0.5

BM-JC30讀數顯微鏡一、用途BM-JC30是一種便攜式的顯微測量讀數顯微鏡，對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、表面缺陷 的在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及細微顆粒、材料裂痕表面弊病檢測。二、技術參數型號BM-JC30儀器放大倍數30X目鏡放大倍數15X目鏡視場（mm）?8.5物鏡放大倍數2X測量范圍（mm）4鼓輪*小讀數值（mm）0.005儀器重量（㎏）0.5

BM-JC15讀數顯微鏡一、用途BM-JC15是一種便攜式的顯微測量讀數顯微鏡，對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、表面缺陷 的在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及細微顆粒、材料裂痕表面弊病檢測。二、技術參數型號BM-JC15儀器放大倍數15X目鏡放大倍數15X目鏡視場（mm）?8.5物鏡放大倍數1X測量范圍（mm）8鼓輪*小讀數值（mm）0.01儀器重量（㎏）0.5

手持讀數顯微鏡40X手持讀數顯微鏡40X屬于我廠微調顯微鏡系列產品，*大倍率為40倍，讀數板為5毫米50條線，每毫米成象后等于物體實際尺寸0.36毫米，框滿5毫米等于物體實際尺寸1.8毫米，以此類推計算即可。本產品適用于印刷業、紡織業、集郵、檢查玉翠等產品質量。產品體小，攜帶方便。本產品備有照明系統，在外部光線不足的情況下，啟用本系統。使用時將照明筒上方啟開裝五號電池兩節，陽極向下，然后將照明筒向外側開即可亮，如不亮檢查電門彈簧片或電珠接觸不良所致。拆開時首先將緊因螺釘松開即可取下照明系統，用手從中縫拆開便可找到原因。光學系統不要拆卸，以免影響使用效果。★注：不能用南孚電池。